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Study of Time-Periodic Avalanche Breakdown Occurring in VLD Edge Termination Structures

机译：VLD边缘终端结构中发生时周期雪崩击穿的研究

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2. Simulation studies on guard ring effects on edge breakdown suppression of InGaAs/InP avalanche photodiodes [J] . Park Seoung-Hwan, Park Chan-Yong, Ahn Doyeol Japanese journal of applied physics . 2018,第10期

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3. A Study of Edge Termination Field Plate Oxide Etch Angle for Optimize SiC Schottky Barrier Diode Breakdown Voltage Characteristics [J] . Hong Young Sung, Nam Tae Jin, Lee Myong Hwan, Journal of nanoscience and nanotechnology . 2016,第12期

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5. Two-dimensional device simulation of junction termination structures for determination of breakdown behavior [D] . Tan, Leong Hin. 1989

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8. The Application of the Scanning Electron Microscope to Studies of Current Multiplication, Avalanche Breakdown and Thermal Runaway. Part 2 - General Studies, Mainly Non-Thermal [R] . Sulway, D. V., Thornton, P. R., Wayte, R. C. 1968

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